HBM Test and Measurement annonce une nouvelle carte d’acquisition de données universelle GN840B/1640B de la famille Genesis High Speed principalement destinée aux applications dynamiques dans les essais des matériaux et les tests structuraux. Avec un taux d’échantillonnage de 500 kéch/s par voie et une bande passante de 210 kHz, cette carte permet de faire des mesures rapides lors de tests de chute, de choc et d’impact, par exemple.

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